분석시험

표면분석

FE-SEM 전계 방출형 주사전자현미경으로 전자빔을 표면에 집중하여 표면에서 발생된 이차전자를 수집하여 신호를 형상화 하는 현미경
EDS 에너지 분산 X선 분광법으로, 물질의 화학적 특성 분석/원소 분석을 가능하게 하는 방법. 정량적 분석이 가능함
EBSD 전자 후방산란 회절 분석법으로, 시료의 결정 구조, 결정 방향, 입자크기 및 경계, 텍스처 등을 고해상도로 분석하는 결정학적 분석법
XPS Xray를 이용하여 방출된 전자의 에너지를 측정하여 나타내는 표면 분석이며, 원자에서 방출된 전자의 에너지를 분석하여 원소의 종류와 화학적 특성을 구분한다.
XRD X선을 물질에 쏘아 나오는 반사파를 분석하는 방법이며, x선을 결정에 부딪히면 그 중 일부는 회절을 일으키고 그 회절각과 강도는 물질구조상 고유한 것이기 때문에 조사를 했을 때 시료에 함유된 결정성 물질의 종류와 양에 관계되는 정보를 알 수 있음

성분분석

ICP-OES 유도결합 플라즈마 광방출 분광법으로 시료 내 특정 원소의 양을 측정하는데 사용. 들뜬 상태의 원자가 더 낮은 에너지 준위로 전이될 때 특정 파장의 빛을 방출하게 되는데, 이 파장과 세기를 이용하여 시료 중의 원소 농도 측정
ICP-MS 기존 ICP-OES와 질량분석기를 결합한 성태로 OES에 비해 더 낮은 농도인 ppt까지 초정밀정량분석이 가능함