분석시험
표면분석
FE-SEM | 전계 방출형 주사전자현미경으로 전자빔을 표면에 집중하여 표면에서 발생된 이차전자를 수집하여 신호를 형상화 하는 현미경 |
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EDS | 에너지 분산 X선 분광법으로, 물질의 화학적 특성 분석/원소 분석을 가능하게 하는 방법. 정량적 분석이 가능함 |
EBSD | 전자 후방산란 회절 분석법으로, 시료의 결정 구조, 결정 방향, 입자크기 및 경계, 텍스처 등을 고해상도로 분석하는 결정학적 분석법 |
XPS | Xray를 이용하여 방출된 전자의 에너지를 측정하여 나타내는 표면 분석이며, 원자에서 방출된 전자의 에너지를 분석하여 원소의 종류와 화학적 특성을 구분한다. |
XRD | X선을 물질에 쏘아 나오는 반사파를 분석하는 방법이며, x선을 결정에 부딪히면 그 중 일부는 회절을 일으키고 그 회절각과 강도는 물질구조상 고유한 것이기 때문에 조사를 했을 때 시료에 함유된 결정성 물질의 종류와 양에 관계되는 정보를 알 수 있음 |
성분분석
ICP-OES | 유도결합 플라즈마 광방출 분광법으로 시료 내 특정 원소의 양을 측정하는데 사용. 들뜬 상태의 원자가 더 낮은 에너지 준위로 전이될 때 특정 파장의 빛을 방출하게 되는데, 이 파장과 세기를 이용하여 시료 중의 원소 농도 측정 |
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ICP-MS | 기존 ICP-OES와 질량분석기를 결합한 성태로 OES에 비해 더 낮은 농도인 ppt까지 초정밀정량분석이 가능함 |
